Imaging of trapped vortices in YBCO coated conductors by scanning SQUID microscopy
Imaging of trapped vortices in YBCO coated conductors by scanning SQUID microscopy
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通过扫描 SQUID 显微镜对 YBCO 涂层导体中的陷涡进行成像
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Inoue et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Hayashibe;N.Suzuki;N.Nakata;A.Hattori;K.Konishi;M.Hashizume;奥井登志子;井上昌睦 他;K.Koyanagi et al.;M.Inoue et al.
