Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate
Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate
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使用 3D-DDTC 硅条探测器在 n 型基板上进行光束测试测量
DOI:
10.1109/tns.2010.2058863
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发表时间:
2010
影响因子:
1.8
通讯作者:
Kohler M
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Kohler M
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DOI:
--
发表时间:
2005
期刊:
影响因子:
--
作者:
C. Piemonte;M. Boscardin;G. Betta;S. Ronchin;N. Zorzi
通讯作者:
N. Zorzi
DOI:
--
发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
--
作者:
T. Ehrich;S. Kühn;M. Boscardin;G. Betta;S. Eckert;K. Jakobs;M. Maassen;U. Parzefall;C. Piemonte;A. Pozza;S. Ronchin;N. Zorzi
通讯作者:
N. Zorzi
DOI:
10.1016/j.nima.2009.01.189
发表时间:
2009
影响因子:
1.4
作者:
M. Kortelainen;T. Lampén;H. Moilanen;T. Mäenpää
通讯作者:
T. Mäenpää
DOI:
10.1016/j.nima.2009.01.073
发表时间:
2009
影响因子:
1.4
作者:
A. Zoboli;G. Betta;M. Boscardin;L. Bosisio;S. Eckert;S. Kühn;U. Parzefall;C. Piemonte;S. Ronchin;N. Zorzi
通讯作者:
N. Zorzi
DOI:
10.1016/j.nima.2008.05.012
发表时间:
2008
影响因子:
1.4
作者:
T. Mäenpää;P. Luukka;B. Betchart;S. Czellár;R. Demina;Y. Gotra;M. Frey;F. Hartmann;J. Härkönen;S. Korjenevski;M. Kortelainen;T. Lampén;B. Ledermann;V. Lemaitre;T. Liamsuwan;O. Militaru;H. Moilanen;H. Simonis;L. Spiegel;E. Tuominen;E. Tuovinen;J. Tuominiemi
通讯作者:
J. Tuominiemi