Single-electron charging in phosphorous donors in silicon observed by low-temperature Kelvin probe force microscope
Single-electron charging in phosphorous donors in silicon observed by low-temperature Kelvin probe force microscope
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低温开尔文探针力显微镜观察硅中磷供体的单电子充电
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and M. Tabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Anwar;Y. Kawai;D. Moraru;R. Nowak;R. Jablonski;T. Mizuno;and M. Tabe
