In situ energy-dispersive X-ray reflectivity measurements of structural changes in thin films for organic electroluminescent devices
In situ energy-dispersive X-ray reflectivity measurements of structural changes in thin films for organic electroluminescent devices
复制标题
有机电致发光器件薄膜结构变化的原位能量色散 X 射线反射率测量
DOI：
10.1016/s0379-6779(98)80078-7
复制
发表时间：
1997
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K. Matsushige
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Orita;T. Morimura;T. Horiuchi;K. Matsushige
