YSZ薄膜における残留ひずみが導電特性に与える影響
YSZ薄膜における残留ひずみが導電特性に与える影響
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残余应变对YSZ薄膜导电性能的影响
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
井口史匡,大沢洋平,清水信,湯上浩雄
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yongpeng Tang;Atsushi Hosoi;Yasuyuki Morita and Yang Ju;井口史匡,大沢洋平,清水信,湯上浩雄
