Yu.Ding: "Nano-localized Desorption and Time of Flight Mass Analysis using solely Optical Enhancement in the proximity of a Scanning Tunneling Microscope tip"Surface Science. (印刷中).
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Yu.Ding：“仅使用扫描隧道显微镜尖端附近的光学增强进行纳米定域解吸和飞行时间质量分析”表面科学（正在出版）。
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