Powder X-ray diffraction pattern of NbSi1.9 containing planar stacking faults
Powder X-ray diffraction pattern of NbSi1.9 containing planar stacking faults
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含有平面堆垛层错的NbSi1.9的粉末X射线衍射图
DOI：
10.1016/j.intermet.2011.11.002
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
4.4
通讯作者：
T. Yamada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Yamane;H. Sato;T. Yamada
