Local structure of uranium in polycrystalline α-U2N3+δ film probed by X-ray absorption spectroscopy
Local structure of uranium in polycrystalline α-U2N3+δ film probed by X-ray absorption spectroscopy
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X射线吸收光谱探测多晶α-U2N3 δ薄膜中铀的局域结构
DOI：
10.1016/j.jnucmat.2020.152404
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发表时间：
2020-12
影响因子：
3.1
通讯作者：
Jian-Qiang Wang
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hongliang Bao;Huoping Zhong;Yin Hu;Jian Lin;Haisheng Yu;Jingyuan Ma;Zhengfeng Tang;Yuan Qian;Yuying Huang;Ke-Zhao Liu;Jian-Qiang Wang
对铀-氮相互作用等局部结构的了解是更好地了解富氮氮化铀的物理和化学性质的先决条件。基于从头算多重散射理论，用X射线吸收光谱结合FEFF9.6程序计算了U在α-U2N3+δ多晶薄膜中的局域结构。多晶α-U2N3+δ样品接近U2N3，U-N键长分布较窄。U的平均价态为1.3，U-N的平均键距为2.30；α-U2N3+δ样品中U的局域结构可以进一步具体地用晶格参数为10.69(9)ä的U2N3模型来表示，其中U1原子被∼2.277，∼2.295和∼2.320ä上的氮原子包围。
Knowledge of the local structure such as U–N interaction is a prerequisite for a better understanding of the physical and chemical properties of nitrogen-rich uranium nitrides. The local structure of U in polycrystalline α-U2N3+δfilm was investigated by using X-ray absorption spectroscopy at the UL3edge combined with spectral calculation using FEFF 9.6 program based on theab initiomultiple scattering theory. The polycrystalline α-U2N3+δsample was shown to be close to U2N3with a narrow distribution of U–N bond lengths. The average valence of U was estimated to be 1.3 and the average bond distance of U–N was determined to be 2.30 Å. The local structure of U in the α-U2N3+δsample can be further specifically expressed by a U2N3model with a lattice parameter of 10.69 (9) Å where U1 atoms are surrounded by nitrogen atoms at ∼2.277, ∼2.295 and ∼2.320 Å.
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影响因子：
3.1
作者：
K. Terrani;B. Jolly;J. Harp
通讯作者：
K. Terrani;B. Jolly;J. Harp
DOI：
10.1016/0022-1902(74)80220-4
发表时间：
1974-05
期刊：
Journal of Inorganic and Nuclear Chemistry
影响因子：
--
作者：
H. Tagawa;N. Masaki
通讯作者：
H. Tagawa;N. Masaki
影响因子：
3.7
作者：
E. L. Bright;R. Springell;D. Porter;S. Collins;G. Lander
通讯作者：
E. L. Bright;R. Springell;D. Porter;S. Collins;G. Lander
影响因子：
2.5
作者：
Ravel, B;Newville, M
通讯作者：
Newville, M
影响因子：
2.1
作者：
E. L. Bright;S. Rennie;M. Cattelan;Neil A. Fox;D. T. Goddard;R. Springell
通讯作者：
E. L. Bright;S. Rennie;M. Cattelan;Neil A. Fox;D. T. Goddard;R. Springell