H.Maiwa and N.Ichinose: "Measurement of Electric-Field-Induced Displacements in (Pb,La)TiO_3 Thin Films Using Scanning Probe Microscopy."Jpn.J.Appl.Phys.. 39・98. 5403-5407 (2000)
H.Maiwa and N.Ichinose: "Measurement of Electric-Field-Induced Displacements in (Pb,La)TiO_3 Thin Films Using Scanning Probe Microscopy."Jpn.J.Appl.Phys.. 39・98. 5403-5407 (2000)
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H.Maiwa 和 N.Ichinose：“使用扫描探针显微镜测量 (Pb,La)TiO_3 薄膜中的电场引起的位移”。Jpn.J.Appl.Phys.. 39・98 (2000) ）
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