工藤一浩: "半導体チップ探針を用いたSTMによる有機超薄膜の局所物性評価" 電子情報通信学会全国大会予稿集. (予定). (1997)
工藤一浩: "半導体チップ探針を用いたSTMによる有機超薄膜の局所物性評価" 電子情報通信学会全国大会予稿集. (予定). (1997)
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Kazuhiro Kudo：“使用半导体芯片探针通过 STM 评估超薄有机薄膜的局部物理特性”全国电子信息通信工程师学会会议记录（暂定）（1997 年）。
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