Shelf-life time test of p-and n-type organic thin film transistors using copper phthalocyanines

Shelf-life time test of p-and n-type organic thin film transistors using copper phthalocyanines
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使用铜酞菁的 p 型和 n 型有机薄膜晶体管的保质期测试

DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
Thin Solid Films, Thin Solid Films
影响因子:
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通讯作者:
F. Fages and C. Videlot-Ackermann
F. Fages and C. Videlot-Ackermann
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
S. Nenon;D. Kanehira;N. Yoshimoto;F. Fages and C. Videlot-Ackermann

文献摘要

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