共焦点レーザ顕微鏡を利用した三次元マイクロウェア解析.
共焦点レーザ顕微鏡を利用した三次元マイクロウェア解析.
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使用共焦激光显微镜进行三维微磨损分析。
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
甲能直樹.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
久保麦野;山田英佑;久保泰;甲能直樹.
