M. Yanagihara: "Consistency of the Surface Roughness Determined from Soft-X-Ray Reflectance and Surface Profiles Measured Using a Scanning Tunnelling Microscope : Coherence Length of the Soft X-Rays" Optical Review. 3. 65-70 (1996)
M. Yanagihara: "Consistency of the Surface Roughness Determined from Soft-X-Ray Reflectance and Surface Profiles Measured Using a Scanning Tunnelling Microscope : Coherence Length of the Soft X-Rays" Optical Review. 3. 65-70 (1996)
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M. Yanagihara：“根据软 X 射线反射率确定的表面粗糙度和使用扫描隧道显微镜测量的表面轮廓的一致性：软 X 射线的相干长度”光学评论。
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