A software reliability growth model with testing-coverage maturity process
A software reliability growth model with testing-coverage maturity process
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具有测试覆盖率成熟度过程的软件可靠性增长模型
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Yamamoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Tamura;S.Iriguchi;S.Inoue;H.Morita;T.Fukushima;T.Fujiwara;S.Inoue;Y.Tamura;Y.Tamura;T.Fujiwara;H.S.Kim;Y.Tamura;井上真二;田村慶信;得能貢一;山田茂;田村慶信;K.Tokuno;K.Nasuse;T.Fujiwara;Y.Tamura;S.Inoue;T.Yamamoto
