Likelihood Identification of High-Beta Disruption in JT-60U
Likelihood Identification of High-Beta Disruption in JT-60U
复制标题
JT-60U 中高 Beta 破坏的可能性识别
DOI：
10.1585/pfr.16.1402073
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发表时间：
2021
影响因子：
0.8
通讯作者：
OGAWA Yuichi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
YOKOYAMA Tatsuya;YAMADA Hiroshi;ISAYAMA Akihiko;HIWATARI Ryoji;IDE Shunsuke;MATSUNAGA Go;MIYOSHI Yuya;OYAMA Naoyuki;IMAGAWA Naoto;IGARASHI Yasuhiko;OKADA Masato;OGAWA Yuichi
