Test Planning for Post-Silicon Skew Tuning Based on Graph Partitioning
Test Planning for Post-Silicon Skew Tuning Based on Graph Partitioning
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基于图分区的硅后偏差调整测试规划
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Mineo Kaneko
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tomofumi Zushi;Yoshinari Kamakura;Kenji Taniguchi;Iwao Ohdomari;Takanobu Watanabe;Mineo Kaneko
