Quasicrystalline Antimony Thin Films
Quasicrystalline Antimony Thin Films
复制标题
准晶锑薄膜
DOI：
10.1002/ijch.202300135
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发表时间：
2023
影响因子：
3.2
通讯作者：
Raj Sharma H
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Raj Sharma H
用扫描隧道显微镜（STM）和X射线光电子能谱（XPS）研究了Sb薄膜在Ag−In−Yb准晶五重面上的生长。在低覆盖度下，沉积的Sb产生不同尺寸和高度的五边形网络。这些Sb五边形可以通过衬底的五边形镶嵌来映射，因此表现出准晶体长程有序。随后的Sb沉积产生无序的膜。XPS观察到的生长模式与STM结果一致。
The growth of antimony (Sb) thin films on the fivefold surface of icosahedral Ag−In−Yb quasicrystal has been studied by scanning tunneling microscopy (STM) and x‐ray photoelectron spectroscopy (XPS). At low coverage, the deposited Sb yields a network of pentagons of different sizes and heights. These Sb pentagons can be mapped by a pentagonal tiling of the substrate and thus exhibit quasicrystalline long‐range order. Subsequent deposition of Sb yields a disordered film. XPS observations of the growth mode are consistent with the STM results.
Bi在i-Ag-In-Yb准晶五重表面上的吸附结构
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
K. Nozawa;Y. Ishii
通讯作者：
Y. Ishii
二十面体Ag-In-Yb准晶五重表面上铋薄膜的生长
影响因子：
1.9
作者：
Hars S
通讯作者：
Hars S