W.Parrish,虎谷 秀穂 etc.: "X-ray Reflectometry of Single-and Multi-layer Thin Films" Proceedings Mat.Res.Soc.Symp.208. 327-337 (1991)
W.Parrish,虎谷 秀穂 etc.: "X-ray Reflectometry of Single-and Multi-layer Thin Films" Proceedings Mat.Res.Soc.Symp.208. 327-337 (1991)
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W.Parrish、Hideho Toratani 等：“单层和多层薄膜的 X 射线反射测量”Proceedings Mat.Res.Soc.Symp.208 (1991)。
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