Characterization of LaVOx thin films by photoemission spectroscopy
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复制标题
光电子能谱表征 LaVOx 薄膜
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and H. Y. Hwang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Wadati;Y. Hotta;M. Takizawa;A. Fujimori;T. Susaki;and H. Y. Hwang
