Direct Observation of Adsorbed Additive Layer at Solid-Liquid Interface by Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy
Direct Observation of Adsorbed Additive Layer at Solid-Liquid Interface by Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy
复制标题
通过调频原子力显微镜直接观察固液界面吸附的添加剂层
DOI：
--
复制
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Hiroshi Onishi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Keita Fujino;Ryota Kawamura;Takashi Matsuoka;Tomoko Hirayama;Hiroshi Onishi
