Probing Carrier Dynamics Modulated by Atomic-Scale Impurities in GaAs by Femto-Second Time-Resolved Scanning Tunneling Microscopy
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通过飞秒时间分辨扫描隧道显微镜探测 GaAs 中原子级杂质调制的载流子动力学
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hidemi Shigekawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shoji Yoshida;Munenori Yokota;Osamu Takeuchi;Hidemi Shigekawa
