Tanaka, T.et al.: "A new method for rapid visualization of defects in leaf cuticle reveals five intrinsic patterns of surface defects in Arabidopsis"Plant J.. 37巻. 139-146 (2004)
Tanaka, T.et al.: "A new method for rapid visualization of defects in leaf cuticle reveals five intrinsic patterns of surface defects in Arabidopsis"Plant J.. 37巻. 139-146 (2004)
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Tanaka, T. 等人：“一种快速可视化叶角质层缺陷的新方法揭示了拟南芥表面缺陷的五种内在模式” Plant J.. 37. 139-146 (2004)
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