Warm irfrared echelle spectrograph(WINERED):testing of optical components and performance evaluation of the optical system
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暖红外阶梯光谱仪(WINERED)：光学元件测试及光学系统性能评估
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yasui;C.;Kondo;S.;Ikeda;Y.;et
