Bi/Si(111)薄膜における表面電子スピン偏極度の膜厚依存性
Bi/Si(111)薄膜における表面電子スピン偏極度の膜厚依存性
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Bi/Si(111) 薄膜中表面电子自旋极化的厚度依赖性
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高山あかり
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Iizaka Shinji;et al;高山あかり
