Syuji Todoriki Kazufumi Sakai and Tomoya Ogawa: "A three dimensional study on dislocation lines in an In-doped GaAs crystal by layer-by-layer tomography" J.Crystal Growth(to be published). (1990)
Syuji Todoriki Kazufumi Sakai and Tomoya Ogawa: "A three dimensional study on dislocation lines in an In-doped GaAs crystal by layer-by-layer tomography" J.Crystal Growth(to be published). (1990)
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Syuji Todoriki Kazufumi Sakai 和 Tomoya Okawa：“通过逐层断层扫描对 In 掺杂 GaAs 晶体中位错线进行三维研究”J.Crystal Growth（待出版）。
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