Evaluation of oxygen-related defects in Ge crystals grown from the melt covered by B_2O_3
Evaluation of oxygen-related defects in Ge crystals grown from the melt covered by B_2O_3
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B_2O_3 覆盖熔体生长的 Ge 晶体中与氧相关的缺陷评估
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
I.Yonenaga
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Taishi;Y.Hashimoto;H.Ise;Y.Murao;T.Ohsawa;Y.Tokumoto;Y.Ohno;I.Yonenaga
