走査型オージェ電子顕微鏡を用いた二次電子利得の絶対計測: Au, Ag, Cu
走査型オージェ電子顕微鏡を用いた二次電子利得の絶対計測: Au, Ag, Cu
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使用扫描俄歇电子显微镜绝对测量二次电子增益：Au、Ag、Cu
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
井上雅彦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.MATSUURA;N.INAGAKI;S. KADO;S.MASUZAKI;A.TONEGAWA;井上雅彦
