部分耗尽SOI晶体管电离辐射损伤的物理模型
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DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
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作者：
姚志斌;黄绍艳;盛江坤;肖志刚;
