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SBIR: Flaw Inspection in Nonferrous Conductors Using Magneto-Optic Detection Methods
SBIR：使用磁光检测方法对有色导体进行缺陷检查
基本信息
- 批准号：8604228
- 负责人：
- 金额：$ 19.35万
- 依托单位：
- 依托单位国家：美国
- 项目类别：Standard Grant
- 财政年份：1986
- 资助国家：美国
- 起止时间：1986-08-01 至 1989-01-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
The field of non-destructive evaluation is of considerable technical, economic and social importance. The proposers have demonstrated the feasibility of using magneto-optic materials to produce direct visual images of flaws near the surface of non-ferrous electrical conductors. The goal of phase II of their research is the demonstration of a prototype flaw visualization system.
非破坏性评估领域具有相当大的技术性， 经济和社会重要性。 提案者已经证明了 利用磁光材料产生直接视觉的可行性 非铁电导体表面附近的缺陷图像。 他们研究的第二阶段的目标是展示一种 原型缺陷可视化系统。
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
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