SBIR：使用磁光检测方法对有色导体进行缺陷检查-猫眼课题宝

SBIR：使用磁光检测方法对有色导体进行缺陷检查

批准号：

8604228

负责人：

Gerald Fitzpatrick

金额：

$19.35万

依托单位：

Sigma Research Inc

依托单位国家：

美国

项目类别：

Standard Grant

财政年份：

1986

资助国家：

美国

项目状态：

已结题

起止时间：

1986-08-01 至 1989-01-31

来源：

https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=8604228&HistoricalAwards=false

关键词：

SBIR Flaw Inspection Nonferrous Conductors

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The field of non-destructive evaluation is of considerable technical, economic and social importance. The proposers have demonstrated the feasibility of using magneto-optic materials to produce direct visual images of flaws near the surface of non-ferrous electrical conductors. The goal of phase II of their research is the demonstration of a prototype flaw visualization system.

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