Tieftemperatur-Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop

低温扫描隧道和原子力显微镜

• 批准号: 133775007
• 金额: --
• 依托单位: Universität Regensburg
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2008-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/133775007?language=en
• 关键词: Tieftemperatur; Rastertunnel; und; Rasterkraftmikroskop

Ein zentrales Arbeitsgebiet des Lehrstuhls Gießibl ist die höchstauflösende Rasterkraftmikroskopie(AFM). Erste Arbeiten zum höchstauflösenden AFM aus der früheren Forschungsgruppe desArbeitsgruppenleiters erschienen 2004. Dort wurde eine Methode demonstriert,mit der man durch die Vermessung höherer Harmonischer der Federbalkenschwingung Orbitale abbilden kann. Eine Erweiterung des Verfahrens würde es erlauben auch die Bindungsstärken in Echtzeit zu vermessen. Diese Methode erfordert ein Mikroskop, welches bei tiefen Temperaturen im Ultrahochvakuum arbeitet (4 Kelvin, Flüssig-Heliumtemperatur) und eine Präparationskammer sowie die nötigen Analysemethoden aufweist. Die in Augsburg gewonnenen Erkenntnisse bezüglich der Sensorik haben gezeigt, dass die geplanten Messungen mit dem beantragten Kraftsensor möglich sind. Der Anbieter kann ein komplettes System bestehend aus Mikroskop, Vakuumkammer, Probenpräparation und -schleuse anbieten, welches eine zuverlässige Plattform darstellt, einfach zu bedienen ist und die erforderlichen Anforderungen erfüllt. Eine Anschaffung dieses Systems würde einen raschen Einstiegin die geplanten Messungen ermöglichen und besitzt eine zentrale Wichtigkeit für den Erfolg dergeplanten Forschungsarbeiten.

一个中心的工作场所的Lehrstuhls Gießibl是höchstauflösende光栅kraftmikroskopie（AFM）。第一次Arbeiten zum höchstauflösenden AFM来自früheren Forschungsgruppe desArbeitsgruppenleiters erserschienen 2004。我们需要一种方法来证明，通过测量轨道联邦平衡的最高协调性，人们可以做到。Eine Erweiterung des Verfahrens würde es erlauben auch die Bindungsstärken in Echtzeit zu vermessen.该方法是一种Mikroskop方法，在超高真空温度下（4开尔文，Flüssig-Helium温度）和一种制备方法中使用。在奥格斯堡，人们对传感器的认识是很清楚的，因为安装传感器的机器人安装了最先进的克拉夫特传感器。Der Anbieter kann komplettes System bestehire aus Mikroskop，Vakuumkammer，Probenpreparation und -schleuse anbieten，welches eine zuverläsouth Plattform darstelt，einfach zu bedienen ist und die erforderlichen Anforderungen erfüllt. Eine Anschaffung dieses Systems würde einen raschen Einstiegin die geplanten Messungen ermöglichen und besitzt eine zentrale Wichtigkeit für den Erfolg dergeplanten Forschungsarbeiten.