Normal-incidence-Photoemissions-Elektronenmikroskop

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Das beantragte Normal-incidence-Photoemissions-Elektronenmikroskop (NI-PEEM) sowie das dazugehörige AFM(MFM)/STM mit Probenpräparation eröffnet einen neuen Zugang zum Feld der ultraschnellen Nano-Optik. Als Option bietet das NI-PEEM die Kombination von Orts- und Zeitauflösung mit der einmaligen Möglichkeit des senkrechten Lichteinfalls. Durch die Kombination mit einem AFM(MFM)/STM können plasmonische Strukturen auf Nanometerskala charakterisiert sowie die Auswirkungen von fs-Laserpulsen auf magnetische Zustände untersucht werden. Das beantragte Gerät ist notwendig, um folgende Themenschwerpunkte bearbeiten zu können: 'Spectroscopy and dynamics of electron excitations of supported metal clusters' und 'Ultrafast All-Optical Magnetization Reversal for Magnetic Recording and Laser- Controlled Spintronics' sowie 'Ultrafast Nanooptics'.