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Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer (TOF-SIMS)

Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer (TOF-SIMS)
飞行时间二次离子质谱仪 (TOF-SIMS)
批准号:
154257296
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2009
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2008-12-31 至 --

项目摘要

项目成果

相关文献

中文摘要
翻译
在Funktionellen材料界,这是一种特殊的结构和化学形式。我们对电化学能中的离子、电子和双核物质进行了分析,并对它们进行了分析。Beispiele sind die Oberflächen von Ionenleitern nachelektrischer偏振在Ionenbechuss,KonzentationsProfile von Ionenen in geisischten leitern and die analyse von Ionenaustauschenden Gruppen in Materien für die Chromatie中。Ein teil dieser Projekte ist Bestandteil einer gePlanten DFG-Forschergruppe zhema“Räumliche and zeitliche Hierachen im Transport von Ionen an inneren undäu?Eren GrizfläChen”。ZUSätzlich soll die Veränderung in Bakterienhüllen nach Kälteschock analysiert Sowie in der zentalen MassenSpektrometrie-Abteilung Service-Messungen für den Gesamten Fachbereich duchgeführtwerden.1 nm,100 nm和10.000 nm。在-130°C之二+600°C的温度下,这是一种全新的工业生产模式。
英文摘要
Die beantragte TOF-SIMS-Anlage soll für die strukturelle und chemische Charakterisierung vonOberflächen und Grenzflächen in funktionellen Materialien verwendet werden. Ein Schwerpunkt liegtdabei auf der Analyse von ionenleitenden, elektronenleitenden und gemischtleitenden Materialien, dievon potentiellem Interesse für Anwendungen in der elektrochemischen Energiespeicherung und in derIonenaustauschchromatographie sind. Beispiele sind die Oberflächen von Ionenleitern nachelektrischer Polarisation oder Ionenbeschuss, Konzentrationsprofile von Ionen in gemischten Leitern und die Analyse von ionenaustauschenden Gruppen in Materialien für die Chromatographie. Ein Teil dieser Projekte ist Bestandteil einer geplanten DFG-Forschergruppe zum Thema „Räumliche und zeitliche Hierarchien im Transport von Ionen an inneren und äußeren Grenzflächen“. Zusätzlich soll die Veränderung in Bakterienhüllen nach Kälteschock analysiert sowie in der zentralenMassenspektrometrie-Abteilung Service-Messungen für den gesamten Fachbereich durchgeführtwerden. Die beantragte TOF-SIMS-Anlage erreicht eine Tiefenauflösung < 1 nm, eine lateraleAuflösung < 100 nm und eine Massenauflösung > 10.000. Der zur Verfügung stehendeTemperaturbereich erstreckt sich von -130 °C bis +600 °C. Diese Leistungsspezifikationen sind für diegeplanten Projekte ausreichend.
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会议论文
Laser‐Directed Self‐Organization and Reaction Control in Complex Systems: A Facile Synthesis Route for Functional Materials
复杂系统中的激光定向自组织和反应控制:功能材料的简便合成路线
DOI: 10.1002/admi.201300060
发表时间: 2014
期刊: Advanced Materials Interfaces
影响因子: 5.4
作者: [H. M. Reinhardt, C. Pietzonka, B. Harbrecht, N. Hampp]
通讯作者: N. Hampp
DOI: 10.1016/j.electacta.2014.03.184
发表时间: 2014-07-01
期刊: ELECTROCHIMICA ACTA
影响因子: 6.6
作者: [Gellert, Michael, Gries, Katharina I., Roling, Bernhard]
通讯作者: Roling, Bernhard
DOI: 10.1515/zpch-2014-0459
发表时间: 2014-01-01
期刊: ZEITSCHRIFT FUR PHYSIKALISCHE CHEMIE-INTERNATIONAL JOURNAL OF RESEARCH IN PHYSICAL CHEMISTRY & CHEMICAL PHYSICS
影响因子: 2.5
作者: [Budina, David, Zakel, Julia, Weitzel, Karl-Michael]
通讯作者: Weitzel, Karl-Michael