Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer (TOF-SIMS)

飞行时间二次离子质谱仪 (TOF-SIMS)

• 批准号: 154257296
• 金额: --
• 依托单位: Philipps-Universität Marburg
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2008-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/154257296?language=en
• 关键词: Flugzeit; Sekund; rionen; Massenspektrometer; TOF

Die beantragte TOF-SIMS-Anlage soll für die strukturelle und chemische Charakterisierung vonOberflächen und Grenzflächen in funktionellen Materialien verwendet werden. Ein Schwerpunkt liegtdabei auf der Analyse von ionenleitenden, elektronenleitenden und gemischtleitenden Materialien, dievon potentiellem Interesse für Anwendungen in der elektrochemischen Energiespeicherung und in derIonenaustauschchromatographie sind. Beispiele sind die Oberflächen von Ionenleitern nachelektrischer Polarisation oder Ionenbeschuss, Konzentrationsprofile von Ionen in gemischten Leitern und die Analyse von ionenaustauschenden Gruppen in Materialien für die Chromatographie. Ein Teil dieser Projekte ist Bestandteil einer geplanten DFG-Forschergruppe zum Thema „Räumliche und zeitliche Hierarchien im Transport von Ionen an inneren und äußeren Grenzflächen“. Zusätzlich soll die Veränderung in Bakterienhüllen nach Kälteschock analysiert sowie in der zentralenMassenspektrometrie-Abteilung Service-Messungen für den gesamten Fachbereich durchgeführtwerden. Die beantragte TOF-SIMS-Anlage erreicht eine Tiefenauflösung < 1 nm, eine lateraleAuflösung < 100 nm und eine Massenauflösung > 10.000. Der zur Verfügung stehendeTemperaturbereich erstreckt sich von -130 °C bis +600 °C. Diese Leistungsspezifikationen sind für diegeplanten Projekte ausreichend.

Die beantragte TOF-SIMS-Anlage soll / / / / / Die struckturrelle and chemische Charakterisierung vonOberflächen and Grenzflächen in funcktionellen Materialien verwendet werden。in Schwerpunkt liegtdabei auf der Analyse von ionenleitenden, elektronenleitenden and semi - chleitenden materials, divelelelem Interesse; r Anwendungen in der elekchemischen Energiespeicherung and in derionenaustauschchromatography sind。Beispiele sind die Oberflächen von Ionenleitern nachelektrischer极化oionenbeschuss， konzconcentrationsprofile von Ionen in semichchten Leitern and die Analyse von ionenaustauschenden Gruppen in Materialien fr die chromatography。Ein Teil dieser Projekte ist Bestandteil einer geplanten DFG-Forschergruppe zum Thema“Räumliche und zeitliche Hierarchien im Transport von Ionen and inneren und äußeren Grenzflächen”。Zusätzlich soll die Veränderung in bakterienhllennach Kälteschock analysiert sowie in der zentralenmassenspectretry - abteilung服务- messungen f<e:1> rden gesamten Fachbereich durchgefhrtwerden。模具型号：tof - sims - anage垂直线Tiefenauflösung < 1nm，线lateraleAuflösung < 100nm，线Massenauflösung > 10.000。Der zur verf<e:1> gung stehendetemperature -130°C至+600°C。中国农业科学与技术研究所，中国农业科学与技术研究所。

项目成果

Laser‐Directed Self‐Organization and Reaction Control in Complex Systems: A Facile Synthesis Route for Functional Materials

复杂系统中的激光定向自组织和反应控制：功能材料的简便合成路线

• DOI: 10.1002/admi.201300060
• 发表时间: 2014
• 期刊: Advanced Materials Interfaces
• 影响因子: 5.4
• 作者: H. M. Reinhardt;C. Pietzonka;B. Harbrecht;N. Hampp
• 通讯作者: N. Hampp

LiNi0.5Mn1.5O4 Thin-Film Cathodes on Gold-Coated Stainless Steel Substrates: Formation of Interlayers and Electrochemical Properties

• DOI: 10.1016/j.electacta.2014.03.184
• 发表时间: 2014-07-01
• 期刊: ELECTROCHIMICA ACTA
• 影响因子: 6.6
• 作者: Gellert, Michael;Gries, Katharina I.;Roling, Bernhard
• 通讯作者: Roling, Bernhard

Bombardment Induced Transport of Rb+ through a K+ Conducting Glass vs. K+ Transport through a Rb+ Conducting Glass

• DOI: 10.1515/zpch-2014-0459
• 发表时间: 2014-01-01
• 期刊: ZEITSCHRIFT FUR PHYSIKALISCHE CHEMIE-INTERNATIONAL JOURNAL OF RESEARCH IN PHYSICAL CHEMISTRY & CHEMICAL PHYSICS
• 影响因子: 2.5
• 作者: Budina, David;Zakel, Julia;Weitzel, Karl-Michael
• 通讯作者: Weitzel, Karl-Michael