In-situ rückgeführte, Diodenlaser-basierte Absolutinterferometrie mit einer Reichweite von 100 m

Die Messung absoluter Distanzen über zehn Meter mit relativen Messunsicherheiten besser als 10-6 stellt eine greße Herausforderung an die Längenmesstechnik dar，die bisher z.B.在种植大的成分时，只有变暗的Abstrichen才能使它们韦尔登。由于激光干涉测量和激光光谱技术的发展需要一种新的测量方法和韦尔登，因此，100 m的距离和一个相对于10-6的测量值是绝对可靠的，并且也可以直接应用于韦尔登的SI定义。通过两种干涉测量技术的组合，实现了对激光的测量，这种干涉测量技术既有腐蚀性，又有可变的综合性，可以实现韦尔登测量。在外差技术中，德国和德国的工程师都有一个自己的建筑。首先，通过无多普勒Jodspektroskopie原位测量韦尔登，可获得绝对测量值。Dafür韦尔登擅长于将Jods的高频结构用于频率调制的Strahles herangezogen。这种Rückführung原理通过绝对干涉测量的一种基本的双精度测量方法，使测量结果受到德国空军参数的影响。因此，Längenmessung als auch die spektroskopische Rückführung erfordern insbesondere eine schnelle Datenerfasung und Aufbereitung，die ebenfalls im Rahmen des Projektes entwickelt und implementiert韦尔登。

Die Messung absoluter Distanzen über zehn Meter mit relativen Messunsicherheiten besser als 10-6 stellt eine große Herausforderung an die Längenmesstechnik dar, die bisher z.B. bei der Fertigung großer Komponenten nur mit starken Abstrichen an die Flexibilität erfüllt werden kann. Durch Verwendung von laserinterferometrischen und laserspektroskopischen Techniken soll ein Verfahren entwickelt und untersucht werden, das Distanzen bis 100 m mit einer relativen Messunsicherheit von besser als 10-6 absolut ermittelt und insbesondere auch gemäß der Mise-en-pratique direkt auf die SI-Definition des Meters rückgeführt werden kann. Die Längenmessung soll durch Kombination zweier Interferometrietechniken, der Interferometrie mit fester und mit variabler synthetischer Wellenlänge, realisiert werden. Die angestrebte Reichweite und Messunsicherheit bedingt einen Aufbau in Heterodyntechnik. Erstmalig soll dabei die Absolutmessung des Verfahrens durch Doppler-freie Jodspektroskopie in-situ rückgeführt werden. Dafür werden gut charakterisierte Hyperfeinstrukturübergänge des Jods zur Kalibrierung des frequenzmodulierten Strahles herangezogen. Dieses Prinzip der Rückführung verspricht eine grundsätzliche Verbesserung gegenüber bisherigen Verfahren der Absolutinterferometrie, da auf diese Weise die Längenmessung deutlich weniger von den Luftparametern beeinflusst wird. Sowohl die Längenmessung als auch die spektroskopische Rückführung erfordern insbesondere eine schnelle Datenerfassung und Aufbereitung, die ebenfalls im Rahmen des Projektes entwickelt und implementiert werden soll.