Sub-Angström Low Voltage Transmission Electron Microscope (Salve II)

“Das beantragte Gerät SALVE-II Transmissionselektronenmikroskop ist eine Gemeinschaftsentwicklung zwischen zwei Firmen (Hardwareentwicklung) sowie der Uni Ulm （Applikationsentwicklung）”Das Gerät stellt eine Generation von Farb- und Öffnungsfehlerkorrigerten Niederspannungs-TEM mit Einsatzspannungen zwischen 20 bis 120kV gegener den herkömmlichen Mittelspannungsmikroskopen mit Arbeitsbereichen von 80 bis 300kV。Durch die Bildkorrektur bei niedrigen Spannungen werden eine Reihe von eletronenstrahl敏化材料（石墨烯，Nanoröhren等），klassische Halbleiter, Keramiken and Oxide ausleichten element (z. B. Li-basierte Materialien), berch Polymere erstals mit atomarer Auflösung unterhalb der Zerstörungsschwelle mittel TEM untersuchbar sein。”

„Das beantragte Gerät SALVE-II Transmissionselektronenmikroskop ist eine Gemeinschaftsentwicklung zwischen zwei Firmen (Hardwareentwicklung) sowie der Uni Ulm (Applikationsentwicklung). Das Gerät stellt eine Generation von Farb- und Öffnungsfehlerkorrigerten Niederspannungs-TEM mit Einsatzspannungen zwischen 20 bis 120kV gegenüber den herkömmlichen Mittelspannungsmikroskopen mit Arbeitsbereichen von 80 bis 300kV. Durch die Bildkorrektur bei niedrigen Spannungen werden eine Reihe von elektronenstrahlsensitiver Materialklassen wie Kohlenstoffnanostrukturen (Graphene, Nanoröhren, etc.), klassische Halbleiter, Keramiken und Oxide aus leichten Elementen (z. B. Li-basierte Materialien), aber auch Polymere erstmals mit atomarer Auflösung unterhalb der Zerstörungsschwelle mittels TEM untersuchbar sein.“