Optische Tiefenprofilbestimmung auf der Basis adaptiv generierter Beugungsmuster

基于自适应生成的衍射图案的光学深度轮廓确定

• 批准号: 21317077
• 负责人: Professor Dr.-Ing. Rüdiger Kays
• 金额: --
• 依托单位: Lehrstuhl für Kommunikationstechnik
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 2006
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2005-12-31 至 2009-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/21317077?language=en
• 关键词: Optische; Tiefenprofilbestimmung; auf; der; Basis

Optische SD-Messtechnik gewinnt einen immer höheren Stellenwert in vielen Anwendungsbereichen. Heutige Verfahren zur dreidimensionalen optischen Vermessung beliebig texturierter Objekte basieren darauf, dass Muster auf die Objektoberfläche projiziert werden, Diese Muster werden durch Sensoren erfasst. Für eine sichere Auswertung sind hohe Kontraste und damit hohe Leuchtdichten der generierten Muster erforderlich. Bei stationären Messeinrichtungen mit geeignet definierten Umfeldleuchtdichten, Objektdimensionen und hoher Leistungsaufnahme der Projektionseinheiten ist damit bereits heute eine relativ präzise Tiefenprofübestimmung möglich. Ziel dieses Forschungsvorhabens ist es, neuartige Verfahren der Tiefenprofilbestimmung auf der Basis adaptiver Laserprojektionsverfahren zu untersuchen, die auch unter kritischeren Randbedingungen zuverlässig arbeiten. Erst seit kurzem verfügbare, hochauflösende LCoSMikrodisplays (Liquid Crystal on Silicon) mit sehr hoher Ortsauflösung und hohen Reflektionsfaktoren stellen die Schlüsseltechnologie dazu dar. Durch die Verwendung eines monochromatischen Laserprojektionssystems, das auf einem LCoS-Mikrodisplay als SLM (Spatial Light Modulator) basiert, ist die Projektion nahezu beliebiger Beugungsmuster hoher Intensität mit gutem Wirkungsgrad möglich. Das Mikrodisplay agiert dabei als ein dynamisches Phasengitter. Die Muster werden durch Verfahren der dreidimensionalen Bildsignalverarbeitung zur Bestimmung von Tiefenprofilen genutzt. Die wechselseitige Anpassung zwischen adaptiv generiertem Beugungsmuster und zugehöriger Signalverarbeitung für die generierten Sensordaten stellt eine interessante wissenschaftliche Fragestellung dar und lässt erwarten, dass eine neue Qualität der Tiefenprofilberechnung erreicht werden kann.

Optische SD-Messtechnik gewinnt einen immer höheren Stellenwert in vielen Anwendungsbereichen.三维光学测量的新方法相信物体的纹理是基本的，这样物体的表面就可以通过传感器测量。对于一个这样的Auswertung sind hohe Kontraste和damit hohe Leuchtelten der generierten Muster erforderlich。Bei stationären Messeinrichtungen mit geeignet definierten Umensleuchtten，Objektdimensionen und hoher Leistungsaufnahme der Projektionseinheiten ist damit heute eine relativ prazise Tiefenprofübestimmung möglich.这些研究是，在适应激光投影测量的基础上进行的最新测量，也可以在激光扫描仪上进行。首先，将LCoSMikrodisplay（硅基液晶）与其他Ortsauflösung和Reflektionsfaktoren一起用于Schlüsseltechnologie dazu dar。在单色激光投影系统中，基于SLM（空间光调制器）的LCoS-微显示器的投影具有更高的强度和更高的光强度。这台微显示器有一个动态的移相器。该集合韦尔登通过Verfahren的三维图像信号verarbeitung对Tiefenprofilen genutzt的估计。Die wechselseitige Anpassung zwischen adaptiv generiertem Beugungsmuster und zugehöriger Signalverarbeitung für die generierten Sensordaten stelt eine interessante wissenschaftliche Fragestellung dar und lässt erwarten，dass eine neue Qualität der Tiefenprofilberechnung erreicht韦尔登kann.