Abbildendes Elektronenenergieverlustspektrometer

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„Die weitreichenden Möglichkeiten eines abbildenden Energieverlustspektrometers in Kombination mit einem hochauflösenden analytischen Transmissionselektronenmikroskop sind für die moderne Materialforschung unverzichtbar. Lokale chemische Analysen (und Mappings) insbesondere von leichten Elementen, die Untersuchung von Bindungstypen und Wertigkeiten auf Nanometerskala sowie die Filterung elastisch gestreuter Elektronen für konvergente Beugungsanalysen sind typische Anwendungen, die sich nur mit einem solchen Energieverlustspektrometer durchführen lassen. Die Arbeitsgruppe Elektronenmikroskopie betreibt am Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM) der Universität Erlangen-Nürnberg ein Mikroskopielabor mit drei Transmissionselektronenmikroskopen, darunter ein in 2009 installiertes aberrations-korrigiertes Gerät, für das temporär ein abbildendes Energiefilter zur Verfügung stand. Die Gruppe nutzt in einer ganzen Reihe von Verbundprojekten (EXC 315, Gradko 1161, Gradko 1229, SPP 1570, SFB 953, SFB-TR 103) bereits intensiv die Möglichkeiten dieses Spektrometers. Darüber hinaus unterstützt die Arbeitsgruppe die Forschungsarbeiten anderer Gruppen der Universität durch nanoanalytische Analysen mittels EELS und EFTEM. Durch die Beschaffung des beantragten abbildenden Energieverlustspektrometers, das wichtige neue Funktionalitäten aufweist (z.B. Fast Shutter, Dual-EELS), soll dauerhaft die Nutzung der nanoanalytischen Möglichkeiten für die Erlanger Materialforschung auf internationalem Niveau sichergestellt werden.“