UHV-Kombinationsgerät für Photoelektronenspektroskopie und Rastertunnelmikroskopie

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Rastertunnelmikroskopie (STM) und Photoelektronenspektroskopie (XPS/UPS) sollen in der Arbeitsgruppe Oberflächenchemie (AK Gottfried) an der Philipps-Universität Marburg zu Untersuchungen der geometrischen, chemischen und elektronischen Struktur von Oberflächen und Grenzflächen verwendet werden. Gegenstand der Forschung sind dabei vor allem reaktive Grenzflächen von Metallen, Halbleitern, organischen Schichten und Flüssigkeiten sowie Modellsysteme für katalytisch aktive Oberflächen. Derartige funktionale Grenzflächen sind von großer Bedeutung in der modernen Technologie, z.B. in elektronischen Bauelementen auf Basis von organischen Halbleitern oder bei funktionalen Oberflächen für Anwendungen in der heterogenen Katalyse und der Sensorik. Im Mittelpunkt stehen dabei vor allem Struktur/Aktivitäts-Beziehungen, die Kontrolle der chemischen Dynamik an Grenzflächen, sowie die Entwicklung neuartiger grenzflächenbasierter Materialien und Verfahren zur Funktionalisierung von Grenzflächen. Thematisch besteht damit ein enger Zusammenhang zu dem DFG-Graduiertenkolleg 1782 "Funktionalisierung von Halbleitern" und dem DFG-Sonderforschungsbereich 1083 "Structure and Dynamics of Internal Interfaces" (in Begutachtung); beide Forschungsverbünde würden durch das beantragte Großgerät gestärkt. Für die materialwissenschaftlich orientierte Forschung, die einen wichtigen Schwerpunkt an der Philipps-Universität Marburg darstellt, ist das beantragte Gerät somit von erheblicher Bedeutung.