Reactivity of point defects on single crystalline silica and aluminosilicate surfaces with water (C05)

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Die Bedeutung von Defekten für die Wechselwirkung von Wasser mit SiO2-baierten Oberflächen ist weit-hin akzeptiert. Eine atomistische Charakterisierung dieser Defekte sowie deren Wechselwirkung mit Wasser ist bislang nur rudimentär vorhanden. Innerhalb dieses Projektes soll die Wechselwirkung von Wasser mit Punktdefekten auf SiO2- und Alumosilikatoberflächen studiert werden. Hierzu werden einkristalline Oberflächen, namentlich niedrigindizierte Oberflächen von a-Quarz und dünne einkristalline SiO2- und Alumosilikatfilme, verwandt und mit Hilfe von EPR- und IR Spektroskopie sowie thermisch programmierter Desorptionsspektroskopie charakterisiert.