Cs-korrigiertes Hochauflösungs-Transmissionselektronenmikroskop

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Die Materialwissenschaften sowie die Nanoanalytik stellen Schwerpunkte der Forschung an der Universität Münster dar. Mit dem beantragten aberrations-korrigierten Hochauflösungs-Transmissionselektronenmikroskop würden die beteiligten Arbeitsgruppen aus Physik, Chemie und den Geowissenschaften, welche einen großen Anteil der Arbeiten in den beiden Schwerpunkten leisten, in die Lage versetzt, analytische und abbildende Transmissionselektronenmikroskopie auf dem heutigen Stand der Technik anzuwenden, um grundlegende Fragen in der materialwissenschaftlichen Forschung anzugehen. Dies ist mit bislang am Standort Münster vorhandenen Geräten nicht möglich. Insbesondere würde die beantragte Konfiguration es erlauben, über die heute in Münster verfügbaren Möglichkeiten hinaus auch atomare Strukturen an und von inneren Grenzflächen, Verzerrungsfelder an Grenzflächen mit atomarer Auflösung, Grenzflächensegregationen und Interdiffusionsprofile und Strukturanalyse mittels Feinbereichs- und Nanostrahlbeugung quantitativ und hinsichtlich einiger Fragestellungen auch in-situ unter dem Einfluss von Temperatur oder mechanischer Spannung zu analysieren. Darüber hinaus eröffnet die schnelle Erfassung charakteristischer Röntgenstrahlung mit hoher Effizienz die Analyse von Elementverteilungen an Grenzflächen bei minimaler Modifikation der Proben durch den Elektronenstrahl und die Möglichkeit des Arbeitens bei Beschleunigungsspannungen unter 80 Kiloelektronenvolt erlaubt die schädigungsfreie Untersuchung von Kohlenstoff-Nanostrukturen.