Cs-korrigiertes Hochauflösungs-Transmissionselektronenmikroskop

材料科学使纳米分析成为明斯特大学研究的重点。通过对透射电子显微镜畸变的校正，物理学、化学和地球物理学的研究小组，在拉格研究中，对透射电子显微镜进行了分析和研究，并在材料科学研究中取得了一定的进展。这是在明斯特站的一个小地方，不适合老年人。由于beantragte配置是erlauben，über die heute in Münster verfügbaren Möglichkeiten hinaus auch atomare Strukturen and von inneren Grenzflächen，Verzerrungsfelder an Grenzflächen mit atomarer Auflösung，Grenzflächensegregationen und Interdiffusionsprofile and Strukturanalysis mittels Feinbereichs- und Nanostrahlbeugung quantitativ and hinsichtlich einiger Fragestellungen auch in situ unter dem Einfluss von Temperatur or der mechanischer Spannung zu analysieren。因此，通过将电磁辐射和80千伏电压下的工作原理进行最小化的改进，可以有效地分析元件的辐射特性，并对Kohlenstoff纳米结构进行自由测量。

Die Materialwissenschaften sowie die Nanoanalytik stellen Schwerpunkte der Forschung an der Universität Münster dar. Mit dem beantragten aberrations-korrigierten Hochauflösungs-Transmissionselektronenmikroskop würden die beteiligten Arbeitsgruppen aus Physik, Chemie und den Geowissenschaften, welche einen großen Anteil der Arbeiten in den beiden Schwerpunkten leisten, in die Lage versetzt, analytische und abbildende Transmissionselektronenmikroskopie auf dem heutigen Stand der Technik anzuwenden, um grundlegende Fragen in der materialwissenschaftlichen Forschung anzugehen. Dies ist mit bislang am Standort Münster vorhandenen Geräten nicht möglich. Insbesondere würde die beantragte Konfiguration es erlauben, über die heute in Münster verfügbaren Möglichkeiten hinaus auch atomare Strukturen an und von inneren Grenzflächen, Verzerrungsfelder an Grenzflächen mit atomarer Auflösung, Grenzflächensegregationen und Interdiffusionsprofile und Strukturanalyse mittels Feinbereichs- und Nanostrahlbeugung quantitativ und hinsichtlich einiger Fragestellungen auch in-situ unter dem Einfluss von Temperatur oder mechanischer Spannung zu analysieren. Darüber hinaus eröffnet die schnelle Erfassung charakteristischer Röntgenstrahlung mit hoher Effizienz die Analyse von Elementverteilungen an Grenzflächen bei minimaler Modifikation der Proben durch den Elektronenstrahl und die Möglichkeit des Arbeitens bei Beschleunigungsspannungen unter 80 Kiloelektronenvolt erlaubt die schädigungsfreie Untersuchung von Kohlenstoff-Nanostrukturen.