Hochfluss Pulverdiffraktometer

在此基础上建立了一种新的衍射仪，该衍射仪使用了地面射线衍射仪primärseitigen与激光衍射仪结合使用的激光衍射仪Flächendetektor insondere衍射仪<e:1>。仪器仪表学家komplementär zubestehenden Geräten和ermöglicht auf Grund des hohen Flusses bis zubeenem gewissen Grad auth die Durchstrahlung komplexer Probenumgebungen （z.B. Trockenkammer， Heizofen等），sowie von Proben mit höherer Kernladungszahl。Die Theta/2Theta-Geometrie des Gerätes ist essentiell f<e:1> r Die Untersuchung von flsig -fest Grenzflächen。Als Alleinstellungsmerkmal des hier beantragten Gerätes ist neben der Verwendung einer 9 kW Drehanode auf einem Theta/2Theta-Goniometer der flexible In-plane Arm zu nennen, wodurman zugangzur Ordnung dnner Filme parallel zur Substratoberfläche erhält。Hauptanwendungsgebiete bilden zum einen in situ Weitwinkelmessungen (WAXS) and Dispersionen and dnnen Filmen in transmission .几何学和几何学上的散射和dnnen Filmen . Charakterisierung dnner Filme . während ihrer Prozessierung in refllektion几何学和在几何学上的反射。Je nach Probe wind eine Zeitauflösung von 1-60 Sekunden angestrebt。

Das hier beantrage Diffraktometer ist auf Grund seines hohen primärseitigen Flusses in Kombination mit einem Flächendetektor insbesondere für In-situ Experimente geeignet. Diese Instrumentierung ist komplementär zu bestehenden Geräten und ermöglicht auf Grund des hohen Flusses bis zu einem gewissen Grad auch die Durchstrahlung komplexer Probenumgebungen (z.B. Trockenkammer, Heizofen etc.), sowie von Proben mit höherer Kernladungszahl. Die Theta/2Theta-Geometrie des Gerätes ist essentiell für die Untersuchung von Flüssig-fest Grenzflächen. Als Alleinstellungsmerkmal des hier beantragten Gerätes ist neben der Verwendung einer 9 kW Drehanode auf einem Theta/2Theta-Goniometer der flexible In-plane Arm zu nennen, wodurch man Zugang zur Ordnung dünner Filme parallel zur Substratoberfläche erhält.Hauptanwendungsgebiete bilden zum einen In-situ Weitwinkelmessungen (WAXS) an Dispersionen und dünnen Filmen in Transmissionsgeometrie und zum anderen die Charakterisierung dünner Filme während ihrer Prozessierung in Reflektionsgeometrie und unter streifendem Einfall. Je nach Probe wird eine Zeitauflösung von 1-60 Sekunden angestrebt.