顔面写真からセファロ計測点を高精度予測する被曝回避AIベースセファロ分析法の確立
顔面写真からセファロ計測点を高精度予測する被曝回避AIベースセファロ分析法の確立
建立基于人工智能的头影测量分析方法，从面部照片高精度预测头影测量点
批准号：
24K13203
负责人：
西井 康
金额：
$2.91万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2024
资助国家：
日本
项目状态：
未结题
起止时间：
2024-04-01 至 2027-03-31
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