In-situ measurement of internal stress during solidification cooling by white X-ray diffraction microscopy
In-situ measurement of internal stress during solidification cooling by white X-ray diffraction microscopy
白X射线衍射显微镜原位测量凝固冷却过程中的内应力
批准号：
20K20968
负责人：
Toyokawa Hidenori
金额：
$4.08万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
财政年份：
2020
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2020-07-30 至 2023-03-31
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Actual Stress Analysis of Small-Bore Butt-Welded Pipe by Complementary Use of Synchrotron X-Rays and Neutrons
同步辐射X射线和中子互补使用的小口径对接焊管实际应力分析
同步辐射X射线和中子互补使用的小口径对接焊管实际应力分析
DOI：
10.2472/jsms.72.316
发表时间：
2023
期刊：
Journal of the Society of Materials Science, Japan
影响因子：
--
作者：
[SUZUKI Kenji, MIURA Yasufumi, SHIRO Ayumi, TOYOKAWA Hidenori, SAJI Choji, SHOBU Takahisa, MOROOKA Satoshi]
通讯作者：
MOROOKA Satoshi
【注目講演】半導体ピクセル検出器：SiからCdTeそしてTlBrへ
【特色讲座】半导体像素探测器：从Si到CdTe和TlBr
【特色讲座】半导体像素探测器：从Si到CdTe和TlBr
DOI：
--
发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
作者：
[豊川秀訓, 人見啓太朗, 野上光博, 久保信, 末永敦士]
通讯作者：
末永敦士
直接法による残留応力の測定
直接法残余应力测量
直接法残余应力测量
DOI：
--
发表时间：
2022
期刊：
保全学
影响因子：
--
作者：
[鈴木賢治, 豊川 秀訓]
通讯作者：
豊川 秀訓
次世代型の応力分布測定法 --直接法の提案
下一代应力分布测量方法--直接法的提案
下一代应力分布测量方法--直接法的提案
DOI：
--
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
作者：
[鈴木賢治, 豊川秀訓]
通讯作者：
豊川秀訓
フォトンカウンティング型2次元検出器の特徴と先端応用
光子计数二维探测器的特点及先进应用
光子计数二维探测器的特点及先进应用
DOI：
--
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Ohzono Takuya, Minamikawa Hiroyuki, Terentjev Eugene M., 豊川秀訓]
通讯作者：
豊川秀訓
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