Development of simultaneous measurement method for geometrical thickness and refractive index of transparent plate by tandem low-coherence double-sided interferometer
Development of simultaneous measurement method for geometrical thickness and refractive index of transparent plate by tandem low-coherence double-sided interferometer
串联低相干双面干涉仪同时测量透明板几何厚度和折射率方法的研制
批准号：
19K05321
负责人：
Hirai Akiko
金额：
$2.83万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2019
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2019-04-01 至 2023-03-31
中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
海外基金