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発光検知型走査透過X線顕微分光法の開発と薄膜デバイスのオペランド観測

発光検知型走査透過X線顕微分光法の開発と薄膜デバイスのオペランド観測
发光检测式扫描透射X射线显微光谱技术的开发及薄膜器件的操作观察
批准号:
18K05189
负责人:
上村 洋平
金额:
$2.75万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2018
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2018-04-01 至 2021-03-31
关键词:

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有機強誘電体薄膜における分極ドメイン壁の電界変調イメージングと運動制御
  • 批准号:
    18J22030
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
  • 资助金额:
    $1.41万
  • 财政年份:
    2018
  • 负责人:
    上村 洋平
  • 依托单位:
時分割DXAFS-PEEMの開発と固体表面上の光励起-電子移動過程の直接観測
  • 批准号:
    13J04364
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
  • 资助金额:
    $0.7万
  • 财政年份:
    2013
  • 负责人:
    上村 洋平
  • 依托单位:
高速時間分解DXAFSによる新規in-situ構造解析法の確立と触媒反応への応用
  • 批准号:
    07J08131
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
  • 资助金额:
    $1.73万
  • 财政年份:
    2007
  • 负责人:
    上村 洋平
  • 依托单位: