Investigation of atomistic solute segregation at ceramic grain boundaries

陶瓷晶界原子溶质偏析的研究

• 批准号: 18K13982
• 负责人: Feng Bin
• 金额: $ 2.66万
• 依托单位: The University of Tokyo
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
• 财政年份: 2018
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2018-04-01 至 2021-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-18K13982/
• 关键词: 粒界溶質偏析; 原子分解能電子顕微鏡; イットリア安定化ジルコニア; STEM―EDS; STEM-EDS; 表面界面; 粒界偏析; 走査透過電子顕微鏡; エネルギー分散型X線分光法; 原子分解能; セラミックス

项目成果

Atomic scale origin of enhanced ionic conductivity at yttria-stabilized zirconia dislocation

氧化钇稳定氧化锆位错离子电导率增强的原子尺度起源

• 发表时间: 2019
• 作者: B. Feng;R. Ishikawa;A. Kumamoto;N. Shibata;Y. Ikuhara
• 通讯作者: Y. Ikuhara

原子分解能電子顕微鏡法を用いた粒界溶質偏析機構の解明

使用原子分辨率电子显微镜阐明晶界溶质偏析机制

• 发表时间: 2018
• 作者: 馮 斌;柴田直哉;幾原雄一
• 通讯作者: 幾原雄一

Solute Segregation Behavior in Ceramic Grain Boundaries Investigated by Atomic-Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy

通过原子分辨率扫描透射电子显微镜研究陶瓷晶界中的溶质偏析行为

• DOI: 10.2320/materia.58.576
• 发表时间: 2019
• 期刊: Materia Japan
• 作者: 中塚祐子;岡田健太郎;三宅仁介;田中勝久;井上博之;Feng Bin
• 通讯作者: Feng Bin

The role of crystal defect cores on ionic conductivity in YSZ studied by atomic-resolution STEM

通过原子分辨率 STEM 研究 YSZ 中晶体缺陷核心对离子电导率的作用

• 发表时间: 2020
• 作者: Y. Nagata;K. Michishio;T. Iidzuka;F. Tanaka;H. Kikutani;L. Chiari;Y. Nagashima;フウ ビン,柴田 直哉,幾原 雄一
• 通讯作者: フウ ビン,柴田 直哉,幾原 雄一

Anomalously Low Heat Conduction in Single‐Crystal Superlattice Ceramics Lower Than Randomly Oriented Polycrystals

单晶超晶格陶瓷的异常低导热率低于随机取向多晶

• DOI: 10.1002/admi.202001932
• 发表时间: 2021
• 期刊: Advanced Materials Interfaces
• 影响因子: 5.4
• 作者: Cho Hai Jun;Wu Yuzhang;Zhang Yu‐Qiao;Feng Bin;Mikami Masashi;Shin Woosuck;Ikuhara Yuichi;Sheu Yu‐Miin;Saito Keiji;Ohta Hiromichi
• 通讯作者: Ohta Hiromichi