Analytisches, ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB)

在波特兰的基础上，我们得到了更多的材料。在这一特征中的Fortschritte Waren Nur Möglich Durch Fununentale Weiterentwickung De Ensprechenden Mikroskope。Anggsteller auf diesem Gebiet konnte die Anwendung der neuesten MikroskopTechniken zur analyst von Baustoffen immer zielgerichtet and Daher of tmals International an erster Stelle eingesetzt den.在此基础上，对纳米双金属结构进行了定量分析。大足和大树在一起，这是一片美丽的土地。《聚焦离子束，FIB》原装自营市场。在Kombination MIT einem Elektronenmikroskop中，Dessen AuflöSong使用了Be niedrigen Beschleunigungsspannungen duch Nutzung eines单色器(0，7 nm，1kV)besser，以及ergeben sich völlig Neue strukturelle Einblicke。在Voruntersusuhungen Konnte gezeigt是，他妈的Hochauflösende dreiDimsionale Von Ulbildung von Ultrahochfesten Betonen Möglich.在Kombination MIT neuesten analytischen Möglichkeiten(fenster失去能量弥散剂Röntgen光谱仪)Biet das beantragte SEM-FIB die Möglichkeit völlig Neue定量Einblicke in die Strukturvon verschiedenen Baustoffen zu erhalten。

Die rasterelektronenmikroskopische Charakterisierung von Baustoffen, speziell Materialien auf Basis von Portlandzement ist ein wesentlicher Baustein für das grundlegende Materialverständnis. Fortschritte in der Charakterisierung waren nur möglich durch fundamentale Weiterentwicklung der entsprechenden Mikroskope. Aufgrund der langjährigen und kontinuierlichen Arbeiten der Antragsteller auf diesem Gebiet konnte die Anwendung der neuesten Mikroskoptechniken zur Analyse von Baustoffen immer zielgerichtet und daher oftmals international an erster Stelle eingesetzt werden. Die neuesten rasterelektronenmikroskopischen Entwicklungen zielen auf eine ultrahochauflösende dreidimensionale Abbildung und quantitative Analyse von Nano- bis Mikrostrukturen. Dazu wurde erst im letzten Jahr eine besonders schonend abtragende sog. "Focused Ion Beam, FIB" Anlage auf den Markt gebracht. In Kombination mit einem Elektronenmikroskop, dessen Auflösung besonders bei niedrigen Beschleunigungsspannungen durch Nutzung eines Monochromators signifikant (0,7 nm, 1 kV) besser ist, als das bereits vorhandene Mikroskop (1 ,6 nm, 1 kV), ergeben sich völlig neue strukturelle Einblicke. In Voruntersuchungen konnte gezeigt werden, dass damit eine hochauflösende dreidimensionale Abbildung von ultrahochfesten Betonen möglich ist. In Kombination mit neuesten analytischen Möglichkeiten (fensterloses energiedispersives Röntgenspektrometer) bietet das beantragte SEM-FIB die Möglichkeit völlig neue quantitative Einblicke in die Struktur von verschiedenen Baustoffen zu erhalten.