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Nano-level defect detection technique of sapphire substrate for LED with wide-field view laser microscope

Nano-level defect detection technique of sapphire substrate for LED with wide-field view laser microscope
LED用蓝宝石衬底宽视场激光显微镜纳米级缺陷检测技术
批准号：
16K14144
负责人：
Nitta Isami
金额：
$2.33万
依托单位：
Niigata University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2016
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2016-04-01 至 2019-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-16K14144/
关键词：
設計工学機械機能要素トライボロジーレーザ走査欠陥検査

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Visualization of adhesion phenomenon connecting nano and macro of rubber friction
  • 批准号：
    21K18670
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
  • 资助金额：
    $4.08万
  • 财政年份：
    2021
  • 负责人：
    Nitta Isami
  • 依托单位：
    Niigata University
Profilometry system at nano level for whole cylinder surfaces by laser scanning interferometry technique
  • 批准号：
    26249012
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
  • 资助金额：
    $27.37万
  • 财政年份：
    2014
  • 负责人：
    Nitta Isami
  • 依托单位：
    Niigata University