基于金属尖端感应电流噪声机制的半导体中单电子陷阱的检测和表征-猫眼课题宝

基于金属尖端感应电流噪声机制的半导体中单电子陷阱的检测和表征

批准号：

16K14240

负责人：

Kasai Seiya

金额：

$2.33万

依托单位：

Hokkaido University

依托单位国家：

日本

项目类别：

Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

财政年份：

2016

资助国家：

日本

项目状态：

已结题

起止时间：

2016-04-01 至 2019-03-31

来源：

https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-16K14240/

关键词：

半導体単一電子トラップ走査プローブ表面準位容量結合電流雑音半導体物性評価解析

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发表时间：

期刊：

影响因子： --

作者：

[]

通讯作者：

Development of adoptive nonlinear myoelectric signal detection technique for user-friendly man-machine interface

批准号：

18H01487
项目类别：

Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
资助金额：

$11.15万
财政年份：

2018
负责人：

Kasai Seiya
依托单位：

Hokkaido University