Aperturloses Infrarot-optisches Rasternahfeldmikroskop (SNOM)

Die relatineue ssom - technik erlaubise， auzf völlig zerstörungsfreie Weise microskopische Aufnahmen mit lateraler Auflösung他的herunterzu约20 nm (nur bedingt durch den Radius der verwendeten AFM/STM-Spitze) zuerhalten und, beverwendung durchstimbaer Lichtquellen， mit dieser Auflösung spectroskopische信息bzw。化学对比分析。《方法论》（Die methodist empfindich）的研究成果约为100 nm。Tiefe和kann somit <s:1> vergrabene Grenzflächen informieren。Organische Halbleitermolekule有静脉reichhaltiges IR-Spektrum,韦尔奇好多von der molekularen Geometrie, der Ladung和我Verteilung和der Molekulorientierung zum elektrischen Feld abhangt。热纳极化敏感IR-Messungen können Veränderungen dieser Größen feststelen。Mittels IR sSNOM können unter Verwendung von Quanten-Kaskaden-Lasern (QCL) solche Informationen mit der o.g. lateralen Auflösung erhalten werden。引用本文：[j] . j . b . die Gleichförmigkeit der molecular - Orientierung in iner organischen Halbleiterschicht, die Verteilung des ladungstransers in iner structurerten] .探针在der die Segregation and die Grenzflächenspezies von Mischschichten nachweisbar。Die ferfeld - ir - spektroskie, Die ber μ bis mm grogroe Bereiche mittelt， soll durch eine现代IR-optische nahfeld - method ergänzt werden， um auf der Nanometerskale Phasengrenzen von strukturellen Domänen and Segregation zu analysien。Im Rahmen des SFB 1249 ist auu ßerdem geplant, as Gerät mit zeitaufgelöster optischer Spektroskopie mittelels der Im SFB entwickelten night -linear optischen Techniken zu kombinieren。

Die relativ neue sSNOM-Technik erlaubt es, auf völlig zerstörungsfreie Weise mikroskopische Aufnahmen mit lateraler Auflösung bis herunter zu ca. 20 nm (nur bedingt durch den Radius der verwendeten AFM/STM-Spitze) zu erhalten und, bei Verwendung durchstimmbarer Lichtquellen, mit dieser Auflösung spektroskopische Information bzw. chemischen Kontrast zu erreichen. Die Methode ist empfindlich bis zu ca. 100 nm Tiefe und kann somit über vergrabene Grenzflächen informieren. Organische Halbleitermoleküle haben ein reichhaltiges IR-Spektrum, welches extrem von der molekularen Geometrie, der Ladung und ihrer Verteilung und der Molekülorientierung zum elektrischen Feld abhängt. Genaue polarisationssensitive IR-Messungen können Veränderungen dieser Größen feststellen. Mittels IR sSNOM können unter Verwendung von Quanten-Kaskaden-Lasern (QCL) solche Informationen mit der o.g. lateralen Auflösung erhalten werden. Damit sind z.B. die Gleichförmigkeit der molekularen Orientierung in einer organischen Halbleiterschicht, die Verteilung des Ladungstransfers in einer strukturierten Probe oder die Segregation und die Grenzflächenspezies von Mischschichten nachweisbar. Die Fernfeld-IR-Spektroskopie, die über μm bis mm große Bereiche mittelt, soll durch eine moderne IR-optische Nahfeld-Methode ergänzt werden, um auf der Nanometerskale Phasengrenzen von strukturellen Domänen und Segregation zu analysieren. Im Rahmen des SFB 1249 ist außerdem geplant, das Gerät mit zeitaufgelöster optischer Spektroskopie mittels der im SFB entwickelten nicht-linear optischen Techniken zu kombinieren.