Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle

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Auf Basis des vorliegenden Antrags soll ein modernes Transmissionselektronenmikroskop (TEM) beschafft werden, welches mit einer Feldemissionsquelle, einer Rastereinheit, einem EDX-System mit hohem Abnahmewinkel und einer speziellen Einheit für Textur-, Phasen- und Verzerrungs-Analyse ausgerüstet sein soll. Das Gerät soll gemeinsam betrieben werden vom Institut für Metallkunde und Metallphysik (IMM) (Prof. Sandra Korte-Kerzel), dem Lehrstuhl für Korrosion und Korrosionsschutz (KKS) am Gießerei Institut (Prof. Daniela Zander) und dem Lehrstuhl für Experimentalphysik I A am I. Physikalisches Institut (Prof. Matthias Wuttig) und dem Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie (GFE) (Prof. Joachim Mayer), wo das Gerät auch installiert werden soll. Das neue TEM soll ein 30 Jahre altes Gerät ersetzen, welches gemeinsam vom IMM und GFE betrieben wurde und jetzt aber wegen irreparabler Schäden außer Betrieb genommen wurde. Die verantwortlichen Institute werden das Gerät für Projekte in den Bereichen Materialwissenschaft und Werkstofftechnik, Korrosion und Korrosionsschutz sowie zur Lösung grundlegender Fragen in der Festkörperphysik und Informationstechnologie einsetzen.